概述

CBCT 設(shè)備性能模體是專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)用于 CBCT、牙科 X 線斷層攝影和 3D 成像設(shè)備全程的 QA/QC 測(cè)試工具的， 應(yīng)用范圍包括 3D 成像設(shè)備和 C 形臂 X 射線機(jī)等設(shè)備，  該模體也可用于標(biāo)準(zhǔn)的 CT IQ 測(cè)試 。符合標(biāo)準(zhǔn)：     WS818-2023《錐形束 X 射線計(jì)算機(jī)體層成像(CBCT)設(shè)備質(zhì)量控制檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)》  附錄 G。

主要技術(shù)參數(shù)

模體主體，   由直徑為  20cm  的聚氨酯軟膠圓柱體組成，  高度  200mm；  里面包含三組模塊，  一個(gè)木箱為固 定掛座，  模體主體掛在木箱邊緣打好平水進(jìn)行掃描檢測(cè)。

三組模塊

A  高對(duì)比度分辨力模塊

在主模體外殼內(nèi)第 2 層直徑 150mm 厚 40MM  由純鋁組成的高分辯率測(cè)試卡 線對(duì)/ 厘米高分辨率 線對(duì)   卡 21 線對(duì)/厘米高分辨率線對(duì)卡可用于分辨率檢測(cè)，它的分辨率量程從 1 個(gè)線對(duì)/厘米到 21 個(gè)線對(duì)/厘米。 在  21 線對(duì)檢測(cè)中，   卡的精度是+0.5 線對(duì)，   更低的線對(duì)檢測(cè)中的精度更準(zhǔn)確。

B 低對(duì)比度分辨力模塊

1.  主體材料  (固體水)  直徑 150mm 厚 40MM 檢測(cè) 1.0％對(duì)比度模塊在主模體外殼內(nèi)第三層

2. 模塊中的低對(duì)比靶塊的尺寸和對(duì)比度如下： 外圈靶塊尺寸  內(nèi)圈靶塊尺寸

2.0mm

3.0mm

4.0mm

5.0mm

6.0mm

7.0mm

8.0mm

9.0mm

15.0mm

給定了靶塊對(duì)比度的值，  但是在檢測(cè)對(duì)比度性能前，  需要重新確定靶塊的實(shí)際對(duì)比度 。測(cè)量感興趣區(qū)得到 實(shí)際的對(duì)比度，  然后測(cè)量鄰近的本底區(qū)域 。對(duì)幾個(gè)掃描區(qū)的測(cè)量值取平均值，   去確定靶塊的實(shí)際對(duì)比度 。 同時(shí)測(cè)量鄰近背景區(qū)域?qū)Π袇^(qū)的測(cè)量也是很重要的，   因?yàn)?/span>“杯狀"和“帽狀"效應(yīng)可導(dǎo)致各掃描區(qū)域之間的  CT 值不同。感興趣區(qū)不要太靠近邊緣。感興趣區(qū)的直徑至少要有 4 ×4 個(gè)像素。因?yàn)榈蛯?duì)比度測(cè)量存在“噪音"，

所以應(yīng)取多個(gè)掃描區(qū)域測(cè)量值的平均值 。注意  mAs  的設(shè)置，   因?yàn)殡S著 X 線曝光量的增加，   光子量也將 增加 。利用在各種噪聲水平下視覺(jué)能分辨的靶區(qū)尺寸來(lái)評(píng)估對(duì)比度細(xì)節(jié)曲線上的信息 。在每組對(duì)比度里所 有靶的對(duì)比度都是來(lái)自同樣單一 的混合物，  那樣能確保所有靶區(qū)的對(duì)比度是相同的 。下面的等式可用來(lái)將 測(cè)量對(duì)比度和尺寸轉(zhuǎn)換為其它規(guī)格的對(duì)比度和尺寸  (測(cè)量對(duì)比度)  *  (視覺(jué)能分辨出的z 小靶直徑)  =常數(shù)

C 圖像均勻性模塊

1.  主體材料  (固體水)  直徑 150mm   厚 90MM

2.  圖像均勻性模塊是一個(gè)均勻材質(zhì)的模塊 。這種物質(zhì)的 CT 值在標(biāo)準(zhǔn)掃描方案中，   與水的密度的偏差在  1%  ( 20H)  內(nèi) 。典型的  CT 報(bào)告值從 5 H  到  18 H 。這個(gè)模塊用來(lái)測(cè)量空間均勻性，   CT 平均值和噪聲 。  CT 系統(tǒng)的精度由感興趣區(qū)  ( ROI)  內(nèi)的 CT  平均值和相應(yīng)的 CT 值標(biāo)準(zhǔn)偏差來(lái)衡量 。這些測(cè)量取自掃描區(qū) 內(nèi)不同地方 。設(shè)定同樣大小的  ROI  區(qū)，  分別測(cè)量均勻圖象中心和周?chē)?/span> 、下 、左 、右四個(gè)方向上給定的 感興趣區(qū)  ( ROI)  內(nèi)的大量點(diǎn)  (比如  1000)  的 CT 平均值和  CT 值標(biāo)準(zhǔn)偏差 。觀察以前圖像的數(shù)據(jù)變化和 相關(guān)鄰近區(qū)域的數(shù)據(jù)變化通過(guò)掃描均勻性模塊可測(cè)量空間均勻性 。觀察上圖顯示像素的一排或幾排的 CT  值剖面輪廓平均值上下的趨勢(shì)走向 。選擇一條從模塊一側(cè)到另一側(cè)的剖面曲線 。  由于  CT 機(jī)的邊緣效應(yīng)， 具有代表性的曲線將是從模塊  2cm 處開(kāi)始 。通過(guò)測(cè)量曲線上的  CT 最大值和  CT 最小值，  使用下面的方 程可得系統(tǒng)的整體均勻性：  CT 值的“杯狀"或“帽狀"現(xiàn)象表明系統(tǒng)需要進(jìn)行重新標(biāo)定。